標(biāo)題：金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測(cè)厚儀

產(chǎn)品概述

金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

產(chǎn)品類(lèi)型：能量色散X熒光光譜分析設(shè)備

產(chǎn)品名稱(chēng)：鍍層厚度測(cè)試儀

型   號(hào)：iEDX-150WT

生產(chǎn)商：韓國(guó)ISP公司

亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴：廣州鴻熙電子科技有限公司

產(chǎn)品圖片：

金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測(cè)厚儀 iEDX-150WT特點(diǎn)：

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及特征

（一）產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 1. 鍍層檢測(cè)，最多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性高（見(jiàn)以下產(chǎn)品特征詳述）。

• 2. 平臺(tái)尺寸：620*525mm，樣品移動(dòng)距離可達(dá)220*220*10mm。（固定臺(tái)可選）

• 3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

• 4. 可檢測(cè)固體、粉末狀態(tài)材料。

• 5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

• 6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性，半定量分析。

• 7. 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準(zhǔn)無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果。

• 8. 可針對(duì)客戶(hù)個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

• 9. 軟件*升級(jí)。

• 10. 無(wú)損檢測(cè)，一次性購(gòu)買(mǎi)標(biāo)樣可長(zhǎng)期使用。

• 11. 使用安心無(wú)憂(yōu)，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以?xún)?nèi)，提供保姆式服務(wù)。

• 12. 可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶(hù)使用中的后顧之憂(yōu)。

• 13. 可進(jìn)行RoHS檢測(cè)（選配功能），測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測(cè)試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。

• （二）產(chǎn)品特征

• 1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

• 2. 計(jì)算機(jī)/ MCA(多通道分析儀)

• 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。

• 3. Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件，通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對(duì)樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析。

• 可以增加RoHS檢測(cè)功能。

• 4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

• 勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

• 吸收模式50987.1 DIN / ISO 3497-A2

• 線性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量

• 相對(duì)（比）模式 無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量DIN 50987.3.3/ ISO 3497

• 多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

• 5. 測(cè)試能力（基本配置：PIN探測(cè)器+0.3準(zhǔn)直器）

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• 當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時(shí)，測(cè)量時(shí)間為40S

• 準(zhǔn)確度規(guī)格±5%

• 精確度規(guī)格<5%（COV變動(dòng)率）

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• 當(dāng)化金厚度>5u〞時(shí)，測(cè)量時(shí)間為40S

• 準(zhǔn)確度規(guī)格±5%

• 精確度規(guī)格<5%（COV變動(dòng)率）

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• 當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時(shí)，測(cè)量時(shí)間為40S

• 準(zhǔn)確度規(guī)格±8%

• 精確度規(guī)格<7%（COV變動(dòng)率）

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• 測(cè)化錫時(shí)，測(cè)量時(shí)間為40S

• 準(zhǔn)確度規(guī)格±8%

• 精確度規(guī)格<6%（COV變動(dòng)率）

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• 準(zhǔn)確度公式：準(zhǔn)確度百分比=（測(cè)試10次的平均值-真值）/真值*100%

• 精確度COV公式： （S/10次平均值）*100%

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• 6. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

• 7. 完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差、 低/高讀數(shù)，趨勢(shì)線，Cp 和 Cpk 因素等

• 8. 自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，用戶(hù)使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量。最大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 =每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有最多25 個(gè)不同應(yīng)用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能。

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• 產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明

• 測(cè)量原理：能量色散X射線分析	樣品類(lèi)型：固體/粉末
  X射線光管：50KV，1mA	過(guò)濾器：5過(guò)濾器自動(dòng)轉(zhuǎn)換
  檢測(cè)系統(tǒng)：Pin探測(cè)器(可選SDD)	能量分辨率：159eV（SDD:125eV）
  檢測(cè)元素范圍：Al (13) ~ U(92)	準(zhǔn)直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)
  應(yīng)用程序語(yǔ)言：韓／英／中	分析方法：FP/校準(zhǔn)曲線，吸收，熒光
  儀器尺寸：840*613*385mm	樣品移動(dòng)距離：220*220*10 mm（自動(dòng)臺(tái)）

• 1. X射線管：高穩(wěn)定性X光光管，使用壽命（工作時(shí)間>18,000小時(shí)）

• 微焦點(diǎn)X射線管、Mo (鉬)靶

• 鈹窗口， 陽(yáng)極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。

• 50kV，1mA。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供最佳性能。

• 2. 探測(cè)器：SDD 探測(cè)器（可選Si-Pin）

• 能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

• 3. 濾光片/可選

• 初級(jí)濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換

• 7個(gè)準(zhǔn)直器：客戶(hù)可選準(zhǔn)直器尺寸或定制特殊尺寸準(zhǔn)直器。

• (0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

• 4. 平臺(tái)：軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
  激光定位、簡(jiǎn)易荷載最大負(fù)載量為5公斤
  軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)量

• 5. 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能

• 6. 分析譜線：

• - 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）

• - 基點(diǎn)改正（基線本底校正）

• - 密度校正

• - Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示

• 7．視頻系統(tǒng)：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

• - 觀察范圍：3mm x 3mm

• - 放大倍數(shù)：40X

• - 照明方法：上照式

• - 軟件控制取得高真圖像

• 8. 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)（贈(zèng)送）

• 1） 含計(jì)算機(jī)、顯示器、打印機(jī)、鍵盤(pán)、鼠標(biāo)

• 2） 含Win 7/Win 10系統(tǒng)。

• 3） Multi-Ray鍍層分析軟件

• 注：設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器，需另計(jì)。